NF C96-022-19/A1-2011 半导体装置抗机械及气候影响性能的测试方法.第19部分:晶片抗切强度.

作者:标准资料网时间:2024-05-06 14:08:04 浏览:8578 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part19:dieshearstrength.
【原文标准名称】:半导体装置抗机械及气候影响性能的测试方法.第19部分:晶片抗切强度.
【标准号】:NFC96-022-19/A1-2011
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2011-08-01
【实施或试行日期】:2011-08-27
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Chips;Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Shearstrength;Strengthofmaterials;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:7P;A4
【正文语种】:其他

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