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SJ/T 31065-1994 24型晶片数控抛光机完好要求和检查评定方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-22 08:19:48  浏览:8619   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:24型晶片数控抛光机完好要求和检查评定方法
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 电子工业生产设备 >> 加工专用设备
发布日期:1900-01-01
实施日期:1997-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2010-01-20
出版日期:1900-01-01
页数:4页
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所属分类: 电子元器件与信息技术 电子工业生产设备 加工专用设备
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基本信息
标准名称:光学径纬仪 技术条件
英文名称:Specifications for optical theodolite
中标分类: 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 望远镜、大地测量与航测仪器
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 光学和光学测量 >> 光学测量仪器
替代情况:被GB/T 3161-2003代替
发布日期:1988-09-10
实施日期:1989-07-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2003-08-01
起草单位:上海光学仪器研究所
出版日期:1900-01-01
页数:4页
适用范围

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所属分类: 仪器 仪表 光学仪器 望远镜 大地测量与航测仪器 计量学和测量 物理现象 光学和光学测量 光学测量仪器